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哪些因素会影响磁性测厚仪的测量精度?

发布时间:2022-07-25   点击次数:128次
  磁性测厚仪采用了磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业常用的仪器。
 
  影响磁性测厚仪测量精度因素主要有以下几点:
 
  (1) 覆盖层厚度大于25?m时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
 
  (2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
 
  (3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
 
  (4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.
 
  (5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
 
  (6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
 
  (7) 磁性测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应调整测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触.
 
  磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时,测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有gamma;射线、beta;射线等。
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